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用于質(zhì)量控制的庫(kù)侖法鍍層厚度測(cè)量?jī)x 庫(kù)侖法的成本效益高，可準(zhǔn)確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測(cè)量方法。它為您提供了很大的靈活性，因?yàn)樗梢杂糜趶V泛的鍍層組合。您可以使用庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度，特別是在電鍍鍍層的質(zhì)量控制中，以及用于監(jiān)測(cè)印刷電路板上的殘余純錫厚度。 -
微電腦多功能電解式測(cè)厚儀菲希爾 Fischer菲希爾Couloscope CMS測(cè)厚儀（ 庫(kù)侖測(cè)量系統(tǒng)）使用庫(kù)侖方法測(cè)量鍍層厚度。配備了一一個(gè)大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統(tǒng),該儀器理想的適用于測(cè)量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測(cè)試方法的場(chǎng)合。
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